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IEC 60749-1:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General

Edition date: 2002-08-30
In Force
Available languages: Spanish, English, Francés
ICS: 31.080.01-Semiconductor devices in general
CTN: 1251

Correcciones Normas

Es corregida por IEC 60749-1:2002/COR1:2003

Reemplazo Normas

Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996

Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996/AMD1:2000

Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996/AMD2:2001

El libro en palabras del autor

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