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UNE
UNE-EN 62047-16:2015
En Vigor
2015-08-01
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte
16: Métodos de ensayo para determinar la tensión residual de películas
MEMS. Métodos de curvatura de la oblea y de deflexión del haz
(Ratificada por AENOR en agosto de 2015.)
UNE
UNE-EN 62047-1:2016
En Vigor
2016-05-01
Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte
1: Términos y definiciones (Ratificada por AENOR en mayo de 2016.)
UNE
UNE-EN 13329:2023
En Vigor
2024-02-01
Revestimientos de suelo laminados. Especificaciones, requisitos y
métodos de ensayo. (Ratificada por la Asociación Española de
Normalización en febrero de 2024.)
UNE
UNE-EN 3646-003:2018
En Vigor
2018-09-01
Material aeroespacial. Conectores, eléctricos, circulares, empalme de
bayoneta, temperatura de funcionamiento 175 ºC o 200 ºC continua. Parte
003: Receptáculo, montado con brida cuadrada. Norma de producto
(Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre de 2018.)
