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UNE
UNE-EN 62047-18:2013
En Vigor
2013-11-01
Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte
18: Métodos de ensayo de doblado para materiales de película fina.
(Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)
UNE
UNE-EN 60335-1:2002 CORR 2:2010
En Vigor
2010-11-03
Aparatos electrodomésticos y análogos. Seguridad. Parte 1: Requisitos generales.
UNE
UNE 37254:1987 ERRATUM
En Vigor
1987-04-15
Plomo. Determinación del contenido de zinc. Método espectrométrico de
absorción atómica.
UNE
UNE-EN 4673-005:2010
En Vigor
2010-10-01
Material aeroespacial. Inserciones, roscas UNJ, autofrenadas, con
clavijas auto-perforadoras. Parte 004: En aleación de níquel resistente
al calor NI-P101HT (WASPALOY), plateados (Ratificada por AENOR en
octubre de 2010.)
