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UNE
UNE-EN 60749-35:2006
En Vigor
2007-01-01
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos.
Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos
encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006) (Ratificada por AENOR en
enero de 2007.)
UNE
UNE-EN 60747-16-3:2002
En Vigor
2002-12-01
Dispositivos semiconductores. Parte 16-3: Circuitos impresos de
microondas. Convertidores de frecuencia. (Ratificada por AENOR en
diciembre de 2002)
UNE
UNE-EN 1093-1:2009
En Vigor
2009-07-15
Seguridad de las máquinas. Valoración de la emisión de sustancias
peligrosas transportadas por el aire. Parte 1: Selección de los métodos
de ensayo.
UNE
UNE-EN 13042-1:2007+A1:2009
En Vigor
2009-12-01
Máquinas e instalaciones para la fabricación, tratamiento y procesado de
vidrio hueco. Requisitos de seguridad. Parte 1: Alimentadores de vidrio
fundido.(Mecanismos de feeder) (Ratificada por AENOR en diciembre de 2009.)
