Material aeroespacial. Tubos de conexión. Junta tórica de goma NBR, 75
IRHD, rango de temperatura: - 55ºC a + 135 ºC. (RATIFICADA POR AENOR EN
DICIEMBRE 2001)
Cinc y aleaciones de cinc. Análisis químico. Parte 11: Determinación del
silicio en las aleaciones de cinc. Método espectrofotométrico.
(Ratificada por AENOR en septiembre de 2006.)
Material aeroespacial. Fibras y cables ópticos de uso en aeronaves.
Métodos de ensayo. Parte 305: Inmunidad al acoplamiento con la luz
ambiental. (Ratificada por AENOR en agosto de 2002)
Maquinaria para movimiento de tierras. Herramientas para mantenimiento y
reparación. Parte 1: Herramientas habituales para el mantenimiento y
los ajustes.
Material aeroespacial. Cables eléctricos de uso en aeronaves. Métodos de
ensayo. Parte 301: Resistencia eléctrica por unidad de longitud.
(Ratificada por AENOR en abril de 2002)
Material aeroespacial. Tuercas remachables, autofrenables, flotantes,
autoalineables, doble patilla, en aleación de acero, cadmiadas,
lubrificadas MoS2, serie métrica. Clasificación: 900 MPa (a temperatura
ambiente) / 235 °C (Ratificada por AENOR en julio de 2006.)
Perfiles de poli(cloruro de vinilo) no plastificado (PVC-U) para la
fabricación de perfiles de ventanas y puertas, con folio laminado o
lacados. Clasificación, requisitos y métodos de ensayo.
Material aeroespacial. Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos
de ensayo. Parte 217: Caída de tensión bajo una corriente especificada
para terminales y alargadores. (Ratificada por AENOR en agosto de 2002)
Grabación digital de vídeo con compresión de vídeo de 12,65 mm de
componentes 525/60 y 625/50 (digital S) con formato tipo D-9.
(Ratificada por AENOR en mayo de 2002)
Material aeroespacial. Contectores de una vía con interfaz triaxial,
para transmisión de datos digitales. Parte 003: Receptáculo por soldeo
blando. Norma de producto (Ratificada por AENOR en julio de 2006.)
Material aeroespacial. Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos
de ensayo. Parte 6415: Elementos ópticos. Ensayo de daños en palpadores.
(Ratificada por AENOR en febrero de 2002)
Cinc y aleaciones de cinc. Análisis químico. Parte 6: Determinación del
aluminio y el hierro. Método espectrométrico de absorción atómica con
llama. (Ratificada por AENOR en abril de 2003)
Material aeroespacial. Conectores ópticos rectangulares, multicontactos,
bastidores y paneles, cavidad Quadrax, diámetro de férula 2,5 mm.
Temperatura de utilización - 65 °C a 125 °C (según el cable). Contactos
embutidos. Parte 001: Especificación técnica. (Ratificada por AENOR en
octubre de 2008.)
Material aeroespacial. Fibras y cables ópticos de uso en aeronaves.
Métodos de ensayo. Parte 205: Estabilidad dimensional del cable
longitudinal. (Ratificada por AENOR en agosto de 2002)
Material aeroespacial. Interruptores automáticos. Métodos de ensayo.
Parte 504: Resistencia de los elementos de fijación. (Ratificada por
AENOR en abril de 2005)
Cálculo de las capacidades de transporte de los cables para regímenes de
carga cíclicos y sobrecarga de emergencia. Parte 3 : Factor de capacidad
de transporte cíclico para cables de todas las tensiones con desecado
parcial del terreno.
Normas para el cálculo del retardo y de la potencia. Parte 2:
Especificación para el cálculo del pre-diseño del retardo en librerías
CMOS ASIC. (Ratificada por AENOR en enero de 2003)
Seguridad física. Blindajes opacos. Ensayo y clasificación de la
resistencia al ataque por impactos de bala derivados del disparo de
armas de fuego (armas cortas, rifles y escopetas).
Materiales y artículos en contacto con alimentos. Artículos no-metálicos
para distribución y uso industrial. Método de ensayo para la
determinación de la resistencia a impactos. (Ratificada por AENOR en
agosto de 2000).
Material aeroespacial. Bridas de cables para arneses. Métodos de ensayo.
Parte 401: Resistencia a la rotura del bucle (Ratificada por AENOR en
abril de 2007.)
Material aeroespacial. Materiales no metálicos. Adhesivos estructurales
expansibles. Métodos de ensayo. Parte 6: Determinación de la absorción
de agua. (Ratificada por AENOR en febrero de 2002)
Dispositivos de semiconductores . Parte 16-10:Plan de aprobación de
tecnología (TAS) para circuitos integrados de microondas monolíticos
(Ratificada por AENOR en noviembre de 2004)
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