Using Artificial Intelligence (AI) on ASTM standards and related intellectual property is prohibited. Violations will result in suspension of access.
Escribe aquí el texto del aviso...test1
Escribe aquí el texto del aviso...test5 (no permite cerrarlo)
Escribe aquí el texto del aviso...test2
Escribe aquí el texto del aviso...test3
NF EN 60444-2
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 2 : phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
| Fecha edición: |
2001-07-01
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Francés |
| Keywords: | PIEZOELECTRIC DEVICES|PIEZOELECTRIC CRYSTALS|ELECTRIC MEASUREMENTS|CAPACITANCE|MEASURING TECHNIQUES |
| ICS: | 31.140 - Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: |
Normas citadas
Libros relacionados
Normas relacionadas
Colecciones temáticas relacionadas
