NF EN 60749-16
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16 : particle impact noise dectection (PIND)
| Fecha edición: |
2003-07-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | ELECTRONIC COMPONENTS|MECHANICAL TESTS|DETECTION|NOISE : SOUND|MECHANICAL SHOCK |
| ICS: | 31 - ELECTRONICA, 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores |
| CTN: |
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