NF EN 60749-19/A1
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19 : die shear strength
| Fecha edición: |
2011-08-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Francés |
| Keywords: | ELECTRONIC COMPONENTS|SEMICONDUCTOR DEVICES|MECHANICAL TESTS|SHEAR STRENGTH |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: |
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