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NF EN 60749-19

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19 : die shear strength

Fecha edición: 2003-08-01
En Vigor
Idiomas disponibles: Inglés, Francés
Keywords: ELECTRONIC COMPONENTS|SEMICONDUCTOR DEVICES|MECHANICAL TESTS|SHEAR STRENGTH
ICS: 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA
CTN:

El libro en palabras del autor

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