NF EN 60749-23/A1
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23 : high temperature operating life
| Fecha edición: |
2012-05-01
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Francés |
| Keywords: | HIGH TEMPERATURE TESTS|LIFE : DURABILITY|SEMICONDUCTOR DEVICES|DETERMINATION |
| ICS: | 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: | |
|
Reemplazo Normas |
Es reemplazada por NF EN IEC 60749-23 |
Normas citadas
Libros relacionados
Normas relacionadas
Colecciones temáticas relacionadas
