NF EN 60749-27
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27 : electrostatic discharge (ESD) sensivity testing - Machine model (MM)
| Fecha edición: |
2006-12-01
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Francés |
| Keywords: | ELECTROSTATIC DISCHARGE TESTS|CLASSIFICATIONS|ELECTRIC DISCHARGES|DETERIORATION|MODELS|WAVEFORMS |
| ICS: | 31 - ELECTRONICA, 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores |
| CTN: |
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