NF EN 60749-3
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3 : external visual examination
| Fecha edición: |
2017-06-16
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| Keywords: | ELECTRONIC COMPONENTS|SEMICONDUCTOR DEVICES|TESTS||NONDESTRUCTIVE TESTS|OPTICAL EQUIPMENT|ELECTROSTATIC PROTECTION|FAILURE |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: | |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a NF EN 60749-3:200212 (C96-022-3) |
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