NF EN 60749-34
Semiconducteur devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34 : power cycling
| Fecha edición: |
2011-05-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | TESTS|THERMAL CYCLING TESTS|POWER LOSS|TESTING CONDITIONS|THERMAL RESISTANCE|PROCEDURE |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: | |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a NF EN 60749-34:200512 (C96-022-34) |
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