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NF EN 60749-35

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35 : acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components

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Fecha edición:	2006-12-01 En Vigor
Idiomas disponibles:	Francés
Keywords:	PLASTICS\|TESTS\|ACOUSTICS\|MICROSCOPY\|DETECTION\|DEFECTS\|PROCEDURE
ICS:	31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA
CTN:

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El libro en palabras del autor

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