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NF EN 60749-36

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36 : acceleration steady state

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Fecha edición:	2003-08-01 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés, Francés
Keywords:	ELECTRONIC COMPONENTS\|MECHANICAL TESTS\|ACCELERATION
ICS:	31 - ELECTRONICA, 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores
CTN:

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El libro en palabras del autor

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