NF EN 60749-38
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38 : soft error test method for semiconductor devices with memory
| Fecha edición: |
2008-06-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | MEMORIES|TESTS|ERRORS|DEFINITIONS|ACCELERATED TESTS|FAILURE|LEVEL : QUANTITY |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60749-38:2008 Idéntica IEC 60749-38:2008 |
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