NF EN 60749-4
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp Heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
| Fecha edición: |
2017-06-16
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | ELECTRONIC COMPONENTS|SEMICONDUCTOR DEVICES|MECHANICAL TESTS||DAMP HEAT TESTS|CONTINUOUS TESTS|ACCELERATED TESTS|TESTING CONDITIONS|PROCEDURE |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60749-4:2017 Idéntica IEC 60749-4:2017 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a NF EN 60749-4:200212 (C96-022-4) |
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