NF EN 60749-40
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40 : board level drop test method using a strain gauge
| Fecha edición: |
2012-02-01
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | SEMICONDUCTOR DEVICES|SMD|MECHANICAL TESTS|DROP TESTS|MEASUREMENT|STRESSES|GAUGES|TESTING CONDITIONS |
| ICS: | 31 - ELECTRONICA, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: |
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