NF EN 60749-42
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42 : temperature humidity storage
| Fecha edición: |
2015-03-11
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Francés |
| Keywords: | SEMICONDUCTOR DEVICES|THERMAL ENDURANCE TESTS|HIGH TEMPERATURE TESTS|CLIMATIC CONDITIONS|TEMPERATURE|HUMIDITY|CORROSION RESISTANCE|FAILURE |
| ICS: | 31 - ELECTRONICA, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: |
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