NF EN 60749-44
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44 : neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
| Fecha edición: |
2016-12-23
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | SEMICONDUCTOR DEVICES|MECHANICAL TESTS|TEMPERATURE|FAILURE|NEUTRONS|COMPUTATION|MEASUREMENT|SAMPLES|IRRADIATION|INTEGRATED CIRCUITS|MEMORIES|DATA|ESTIMATION |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60749-44:2016 Idéntica IEC 60749-44:2016 |
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