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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8 : sealing

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Fecha edición:	2003-11-01 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés, Francés
Keywords:	INTEGRATED CIRCUITS\|LEAK TESTS\|LEAKTIGHTNESS\|DETECTION
ICS:	31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA
CTN:

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El libro en palabras del autor

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