NF EN 61967-6/A1
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6 : measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
| Fecha edición: |
2008-06-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | INTEGRATED CIRCUITS|ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY|ELECTROMAGNETIC INTERFERENCE|EMISSION|MEASUREMENT|TESTS|TESTING CONDITIONS|TEST EQUIPMENT|PROBES |
| ICS: | 33.100.10 - Emisión, 33.100 - Compatibilidad electromagnética (CEM), 31.200 - Circuitos integrados. Microelectrónica, 31 - ELECTRONICA, 33 - TELECOMUNICACIONES. TECNICAS DE AUDIO Y VIDEO |
| CTN: |
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