NF EN 62047-14
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14 : forming limit measuring method of metallic film materials
| Fecha edición: |
2012-12-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | MICROELECTRONICS|MATERIALS|METALS|THICKNESS|MEASUREMENT|FORMING|LIMITS |
| ICS: | 31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: |
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