NF EN 62047-18
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18 : bend testing methods of thin film materials
| Fecha edición: |
2014-02-28
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | SEMICONDUCTOR DEVICES|MICROELECTRONICS|MATERIALS|TEST SPECIMENS|DESIGN|PREPARATION|DIMENSIONS|BEND TESTS |
| ICS: | 29.045 - Materiales semiconductores, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA, 29 - ELECTROTECNIA |
| CTN: |
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