NF EN 62047-2
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2 : tensile testing methods of thin film materials
| Fecha edición: |
2006-11-01
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | SEMICONDUCTOR DEVICES|MICROELECTRONICS|MATERIALS|TESTS|TENSION TESTS|ELONGATION|TESTING CONDITIONS |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 29.045 - Materiales semiconductores, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA, 29 - ELECTROTECNIA |
| CTN: |
Normas citadas
Libros relacionados
Normas relacionadas
Colecciones temáticas relacionadas
