NF EN 62047-6
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6 : axial fatigue testing methods of thin film materials
| Fecha edición: |
2010-09-01
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | SEMICONDUCTOR DEVICES|MICROELECTRONICS|MATERIALS|FATIGUE TESTS|STATIC LOADS|TENSION TESTS |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 29.045 - Materiales semiconductores, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA, 29 - ELECTROTECNIA |
| CTN: |
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