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NF EN 62373

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Fecha edición: 2006-10-01
En Vigor
Idiomas disponibles: Inglés, Francés
Keywords: SEMICONDUCTOR DEVICES|POLARIZATION|TEMPERATURE|TESTS|THERMAL STABILITY
ICS: 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA
CTN:

El libro en palabras del autor

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