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NF EN 62374-1

Semiconductor devices - Part 1 : time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

Fecha edición: 2011-06-01
En Vigor
Idiomas disponibles: Inglés, Francés
Keywords: TESTS|BREAKING|TESTING CONDITIONS|ESTIMATION|LIFE : DURABILITY|FAILURE|DEFINITIONS
ICS: 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA
CTN:

El libro en palabras del autor

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