NF EN 62418
Semiconductor devices - Metallization stress void test
| Fecha edición: |
2011-03-01
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | SEMICONDUCTOR DEVICES|METALLIZING|ALUMINIUM|COPPER|STRESSES|TEMPERATURE|FAILURE|MEASUREMENT|ELECTRICAL RESISTANCE|INSPECTION |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: |
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