NF EN IEC 60749-10
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly
| Fecha edición: |
2022-06-10
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | ELECTRONIC COMPONENTS||TESTS|DESTRUCTIVE TESTS|IMPACT TESTS|PROCEDURE |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: | |
|
Reemplazo Normas |
Reemplaza a NF EN 60749-10:200212 (C96-022-10) |
Normas citadas
Libros relacionados
Normas relacionadas
Colecciones temáticas relacionadas
