NF EN IEC 60749-12
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12 : vibration, variable frequency
| Fecha edición: |
2018-03-09
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| Keywords: | ELECTRONIC EQUIPMENT|SEMICONDUCTOR DEVICES|MECHANICAL TESTS|VIBRATION TESTS|DESTRUCTIVE TESTS|PROCEDURE|FAILURE |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: | |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a NF EN 60749-12:200212 (C96-022-12) |










