NF EN IEC 60749-13
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13 : salt atmosphere
| Fecha edición: |
2018-04-13
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | SEMICONDUCTOR DEVICES|CORROSION TESTS||ACCELERATED TESTS|TESTING CONDITIONS|TEST DURATION|ENCLOSURES|ASSEMBLING|TEST SPECIMENS |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: | |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a NF EN 60749-13:200212 (C96-022-13) |
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