NF EN IEC 60749-17
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17 : neutron irradiation
| Fecha edición: |
2019-05-10
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| Keywords: | ELECTRONIC COMPONENTS||IRRADIATION|NEUTRONS|DESTRUCTIVE TESTS|ELECTRICAL TESTS|RADIATION TESTS|MEASUREMENT|DETERIORATION|DOSIMETRY|PROCEDURE |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: | |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a NF EN 60749-17:200308 (C96-022-17) |
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