NF EN IEC 60749-20
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20 : resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
| Fecha edición: |
2020-10-09
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| Keywords: | INTEGRATED CIRCUITS|SMD|ELECTRICAL CASES|PLASTICS|DESTRUCTIVE TESTS||WELDING|CLIMATIC CONDITIONS|HUMIDITY|ABSORPTION|PROCEDURE|INFORMATION|INSPECTION |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: | |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a NF EN 60749-20:201002 (C96-022-20) |
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