NF EN IEC 60749-24
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
| Fecha edición: |
2026-02-04
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Francés, Inglés |
| Keywords: | DAMP HEAT TESTS|ACCELERATED TESTS|HUMIDITY|SEMICONDUCTOR DEVICES|TESTING CONDITIONS|MOISTURE PROOFING|PROCEDURE |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: | |
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Reemplazo Normas |
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