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NF EN IEC 60749-28

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

Fecha edición: 2022-04-08
En Vigor
Idiomas disponibles: Inglés, Francés
Keywords: DETERIORATION|ELECTROSTATIC DISCHARGE TESTS|TESTING CONDITIONS|CLASSIFICATIONS|SENSITIVITY|INTEGRATED CIRCUITS
ICS: 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA
CTN:

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