NF EN IEC 60749-28
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
| Fecha edición: |
2022-04-08
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | DETERIORATION|ELECTROSTATIC DISCHARGE TESTS|TESTING CONDITIONS|CLASSIFICATIONS|SENSITIVITY|INTEGRATED CIRCUITS |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: | |
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