NF EN IEC 60749-34-1
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module
| Fecha edición: |
2025-08-15
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | TEMPERATURE MEASUREMENTS|DETERMINATION|MEASUREMENT|THERMAL RESISTANCE|LIFE : DURABILITY|CYCLIC TESTS|POWER LOSS|COMPUTATION|MODELS|TESTING CONDITIONS|TESTS |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: |
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