NF EN IEC 60749-37
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
| Fecha edición: |
2022-11-18
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | PRINTED-CIRCUIT CARDS|MECHANICAL TESTS|TESTING CONDITIONS|ELECTRONIC COMPONENTS|ELECTRONIC EQUIPMENT|PORTABLE EQUIPMENT|SEMICONDUCTOR DEVICES|DROP TESTS|FAILURE|PROCEDURE|TECHNICAL DOCUMENTS |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: | |
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Reemplazo Normas |
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