NF EN IEC 60749-7
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
| Fecha edición: |
2026-02-04
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Francés, Inglés |
| Keywords: | GAS ANALYSIS|HUMIDITY|PROCEDURE|MEASUREMENT|ELECTRONIC COMPONENTS |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: | |
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Reemplazo Normas |
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