NF EN IEC 63287-2
Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2 : concept of mission profile
| Fecha edición: |
2023-05-12
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | SEMICONDUCTOR DEVICES|INTEGRATED CIRCUITS|RELIABILITY|TESTS|DESIGN|TESTING CONDITIONS|LIFE : DURABILITY|COMPUTATION|FAILURE |
| ICS: | 31.200 - Circuitos integrados. Microelectrónica, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: |
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