NF EN IEC 63364-1
Semiconductor devices - Semiconductor devices for IoT system - Part 1: Test method of sound variation detection
| Fecha edición: |
2023-01-27
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | MICROPHONES|VARIATION|SEMICONDUCTOR DEVICES|DATA|SOUND WAVES|SOUND PRESSURE|ACOUSTICS|TERMINOLOGY|ACOUSTIC TESTS|ENGLISH LANGUAGE|MODELLING|TRANSLATIONS|AUDIO FREQUENCIES|DETECTION|SPECTRA|SIMULATION |
| ICS: | 17.140.01 - Medición acústica y atenuación del ruido en general, 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA, 17 - METROLOGIA Y MEDICION. FENOMENOS FISICOS, 17.140 - Acústica y medición acústica |
| CTN: |
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