NF EN IEC 63616
Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method
| Fecha edición: |
2026-02-11
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Francés, Inglés |
| Keywords: | RESONANCE FREQUENCY|FREQUENCIES|ELECTRIC MEASUREMENTS|SHEET METAL|COMPUTATION|DIELECTRIC PROPERTIES|FORMULAE|RESONATORS|MEASURING INSTRUMENTS|INSULATING SUBSTRATES|MICROWAVE FREQUENCIES|RADIO WAVES|CONDUCTIVITY|MEASUREMENT |
| ICS: | 29.050 - Superconductividad y materiales conductores, 17.220.20 - Medición de magnitudes eléctricas y magnéticas, 17.220 - Electricidad. Magnetismo. Medición eléctrica y magnética, 33.120 - Componentes y accesorios para el equipo de telecomunicaciones, 33.120.01 - Componentes y accesorios en general, 33 - TELECOMUNICACIONES. TECNICAS DE AUDIO Y VIDEO, 17 - METROLOGIA Y MEDICION. FENOMENOS FISICOS, 29 - ELECTROTECNIA |
| CTN: |
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