NF ISO 14606
Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials
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¡RESERVA TU PLAZA AQUÍ!| Fecha edición: |
2008-04-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | SURFACE PROPERTIES|SURFACE CONDITION|COATINGS|PROFILES|THICKNESS|DEPTH|MEASUREMENT|REFERENCE MATERIALS |
| ICS: | 71.040.40 - Análisis químico |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica ISO 14606:2000 |
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