NF ISO 16206
Phase quantitative analysis of residual quartz in silica bricks - X-ray diffraction method
| Fecha edición: |
2025-07-30
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | SILICON DIOXIDE|COMPUTATION|SAMPLING|STANDARD MEASURES|QUANTITATIVE ANALYSIS|TECHNICAL DOCUMENTS|QUARTZ|X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS|DIFFRACTION|FIREBRICKS|MEASUREMENT|X-RAY ANALYSIS|DIFFRACTOMETERS |
| ICS: | 81.080 - Refractarios, 81 - INDUSTRIAS DEL VIDRIO Y DE LA CERAMICA |
| CTN: |
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