NF ISO 16700
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification
| Fecha edición: |
2006-04-01
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | IMAGES|MAGNIFICATION|UNCERTAINTY|MICROSCOPIC ANALYSIS|ELECTRON MICROSCOPES|REFERENCE MATERIALS|CALIBRATION |
| ICS: | 37 - TECNOLOGIA DE LA IMAGEN, 71 - TECNOLOGIA QUIMICA, 71.040.30 - Reactivos químicos, 37.020 - Equipo óptico, 71.040.40 - Análisis químico, 71.040 - Química analítica |
| CTN: |
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