NF ISO 17470
Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
| Fecha edición: |
2006-08-01
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | WAVELENGTHS|QUALITATIVE ANALYSIS|PROBES|MICROANALYSIS|SPECTROPHOTOMETRY|X RAYS|DISPERSING|ELECTRON BEAMS|SPECTRUM ANALYSIS |
| ICS: | 71.040.50 - Métodos de análisis físicoquímicos, 71.040 - Química analítica, 71 - TECNOLOGIA QUIMICA |
| CTN: |
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