NF ISO 18516
Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Determination of lateral resolution
| Fecha edición: |
2008-04-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | SURFACE PROPERTIES|CHEMICAL ANALYSIS|X RAYS|SPECTROSCOPY|MEASUREMENT|AREA|X-RAY ANALYSIS|RESOLUTION |
| ICS: | 71.040.40 - Análisis químico, 71.040 - Química analítica, 71 - TECNOLOGIA QUIMICA |
| CTN: |
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