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Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results

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Fecha edición:	2006-09-01 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés, Francés
Keywords:	X RAYS\|SPECTRUM ANALYSIS\|MEASUREMENT\|SURFACE PROPERTIES\|AREA\|CHEMICAL ANALYSIS\|UNCERTAINTY\|SPECTRA
ICS:	71.040.40 - Análisis químico, 71.040 - Química analítica, 71 - TECNOLOGIA QUIMICA
CTN:

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El libro en palabras del autor

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