NF ISO 22493
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary
| Fecha edición: |
2009-06-01
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | MICROSCOPIC ANALYSIS|VOCABULARY|ELECTRON MICROSCOPES |
| ICS: | 37.020 - Equipo óptico, 01.040.37 - Tecnología de la imagen (Vocabularios), 01.040 - Vocabularios, 01 - GENERALIDADES. TERMINOLOGIA. NORMALIZACION. DOCUMENTACION, 37 - TECNOLOGIA DE LA IMAGEN |
| CTN: |
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