NF ISO 23830
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
| Fecha edición: |
2009-02-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Keywords: | SURFACE PROPERTIES|AREA|CHEMICAL ANALYSIS|MASS SPECTROMETRY|IONS|STABILITY|MEASUREMENT|INTENSITY|MASS SPECTROMETERS|ADJUSTMENT|CATEGORIES|PERFORMANCE EVALUATION|SAMPLES|COMPUTATION |
| ICS: | 71.040.40 - Análisis químico |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica ISO 23830:2008 |
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